2024年中級(jí)經(jīng)濟(jì)師知識(shí)產(chǎn)權(quán)考試大綱已于5月11日正式發(fā)布，以下是詳細(xì)的大綱內(nèi)容以及備考建議。

一、考試目的

本考試旨在測(cè)試應(yīng)試者對(duì)習(xí)近平經(jīng)濟(jì)思想的理解，以及對(duì)知識(shí)產(chǎn)權(quán)專業(yè)理論、工作方法和相關(guān)法律法規(guī)的掌握程度，以及運(yùn)用這些知識(shí)進(jìn)行知識(shí)產(chǎn)權(quán)實(shí)務(wù)工作的能力。

二、考試內(nèi)容與要求

1. 知識(shí)產(chǎn)權(quán)基礎(chǔ)：包括知識(shí)產(chǎn)權(quán)的客體、特征、作用、法律法規(guī)、侵權(quán)行為、保護(hù)措施等。

2. 知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理和專利商標(biāo)代理監(jiān)管：涉及知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理體制、代理機(jī)構(gòu)、執(zhí)業(yè)規(guī)范、監(jiān)管內(nèi)容等。

3. 專利申請(qǐng)、授權(quán)與確權(quán)：包括專利申請(qǐng)文件、保護(hù)客體、授權(quán)條件、審查規(guī)定等。

4. 專利保護(hù)：包括保護(hù)范圍、侵權(quán)判定、訴訟時(shí)效、侵權(quán)責(zé)任等。

5. 專利運(yùn)用：包括運(yùn)用類型、信息傳播、利用場(chǎng)景、分析方法和技能等。

6. 商標(biāo)注冊(cè)申請(qǐng)、審查和核準(zhǔn)：包括商標(biāo)類型、法律制度、注冊(cè)程序、異議處理等。

7. 商標(biāo)保護(hù)：包括保護(hù)意義、侵權(quán)判定、行政處理、司法審判等。

8. 商標(biāo)使用：包括續(xù)展、變更、轉(zhuǎn)讓、許可等。

9. 著作權(quán)：包括制度發(fā)展、主體客體、登記類型、合理使用等。

10. 地理標(biāo)志：包括申請(qǐng)主體、保護(hù)程序、侵權(quán)行為等。

11. 商業(yè)秘密：包括管理制度、侵權(quán)行為、法律責(zé)任等。

12. 集成電路布圖設(shè)計(jì)保護(hù)、植物新品種保護(hù)及其他：包括保護(hù)條件、申請(qǐng)程序、侵權(quán)責(zé)任等。

13. 我國(guó)企業(yè)海外知識(shí)產(chǎn)權(quán)保護(hù)：包括重要性、問(wèn)題和風(fēng)險(xiǎn)、政策、防控原則等。

備考建議

1. 制定合理的學(xué)習(xí)計(jì)劃，按部就班地復(fù)習(xí)。

2. 多做真題和模擬題，熟悉考試題型和答題技巧。

3. 關(guān)注知識(shí)產(chǎn)權(quán)領(lǐng)域的最新動(dòng)態(tài)，了解相關(guān)政策法規(guī)。

4. 提前了解考場(chǎng)信息，確?？荚嚠?dāng)天順利。

5. 保持良好的心態(tài)，自信應(yīng)對(duì)考試。